Sun Y., Wang J., Talantsev E.F., Tallon J.L., Xing Y., Crump W.P., Island J.O.
Ключевые слова: thin films, critical temperature, interfaces, chalcogenide, modeling, penetration depth, MgB2, upper critical fields, critical caracteristics, critical current density, experimental results, numerical analysis, Nb, NbN
2D Materials, 2017, v.4, N 2, p.25072
Полный текст на Sci-Hub
Дополнительная информация
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ruТехническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.